가장 경쟁력있고 경제적인 IC Test 방법

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  김동건 PL (삼성전자) 現 메모리 사업부

  • 2005~ 삼성반도체 Memory Wafer Test
  • 2004 고려대학교 전기공학과 석사
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  전봉완 책임 (LG전자) 現 LG전자 SIC센터 책임연구원

  • ~2012 Intel (Austin TX, USA)
  • ~2009 삼성전자 DMC 연구소
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  고진수 부사장(Cohu) 現 Dir ATE Apps South Asia & Korea

  • ~1999 Teradyne Application engineering manager
  • ~1986 Mentor Graphics design engineer
  • ~1983 Samsung Electronics Semiconductor R&D Center, IC design engineer, Team leader
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  손태식 전무(MEK) 現 엠이케이 기술개발 팀장

  • 2017~ 제이에스알 일렉트로닉머트리얼즈 코리아 팀장
  • 1992~ 삼성전자 메모리 사업부
  • 1992 고려대학교 전기공학과
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  오강훈 전무(테라다인) 現 테라다인 SEG/Field Regional Manager

  • ~2019 테라다인 GSO/Field Apps Manager
  • ~2015 테라다인 GSO/Field SOC Apps Team Leader
  • 1998 명지대학교 컴퓨터공학과
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  박문필 부사장 (SK Hynix) 現 DRAM PE제품개발 담당