제27회 한국테스트학술대회

2026년 7월 7일(월) / 서울 그랜드워커힐 호텔 비스타, 그랜드홀

프로그램

행사 주요일정
  • 논문제출 마감일
    2026. 5. 21(목) 까지
  • 논문채택여부 통보
    2026. 6. 5(금) 까지
  • 논문발표자료 마감일
    2026. 6. 16(화) 까지
  • 사전등록 마감일
    추후 공지 예정

TODAY 2026. 05. 14

제27회 한국테스트학술대회

D-54

패널토의

Wafer level High Speed Interface

  • 우형제 JEM 매니저
    • ~ 2012 : 요꼬가와 인스트루먼트 코리아 Application Engineer.
    • 2012 ~ : JEM 기반개발 Engineer.
    • 2021 ~ : JEM 기반개발 Manager.
  • 이영우 SK하이닉스 TL
    • DRAM Test Infra Engineer
  • 오길근 삼성전자 Foundry 사업부
    • 2020~ : 제품분석PE PL
    • ~2019 : 선단 공정 평가용 회로 및 분석 기법 개발
    • ~2015 : Automotive 아날로그-디지털 컨버터 회로 설계
    • ~2010 : ASIC Product and Test Engineer
    • ~2007 : ASIC Product Engineer
    • 2003 : 삼성전자 Sys. LSI 사업부 제품기술팀 입사
  • 이동훈 테크노프로브 코리아 대표
    • 2019 ~ : 테크노프로브코리아 / 대표이사
    • ~ 2018 : 테크노프로브코리아 / 사업총괄 상무
    • ~ 2014 : 브리지(반도체 테스트부품) / 해외마케팅 부서장
    • ~ 2004 : 숭실대학교 대학원 산업정보시스템공학과 석사